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環(huán)境試驗設(shè)備國家標準
環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法,隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展、環(huán)境試驗方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多,被試品所遇到的環(huán)境條件也極其多樣復(fù)雜,要定出一種同樣的環(huán)境試驗方法來滿足所有的試驗?zāi)康氖菢O其困難的。 為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施,需要有質(zhì)量上乘,性能合格的試驗設(shè)備。而要達到這一點,首先需要有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備的尺度,即環(huán)境試驗設(shè)備標準以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標準,為了定量地體現(xiàn)可靠性,有必要規(guī)定試驗的環(huán)境條件和方法,制定出無論在什么地方都能用相同基準(以下簡稱“設(shè)備標準”)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準(以下簡稱“方法標準”)起草、發(fā)布、實施于二十世紀八十年代中期,以IEC68-1,2,3為基調(diào)等效采用。 環(huán)境試驗設(shè)備標準 基本環(huán)境試驗規(guī)程 GB10586 濕熱試驗箱技術(shù)條件 GB2426.3試驗Ca恒定濕熱試驗方法 GB2423.4試驗Dd交變濕熱試驗方法 GB10589 低溫試驗箱技術(shù)條件 GB2423.1 試驗A低溫試驗方法 GB10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件GB2423.22試驗Nb溫度變化試驗方法 GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件 GB2423.2 試驗B高溫試驗方法 基本參數(shù)檢定方法采用GB5170 GB/T5170電工電子產(chǎn)品試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法(1996修訂版明確本標準主要適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗) 應(yīng)注意本公司產(chǎn)品是試驗箱而不是試驗方法,所以說本公司產(chǎn)品符合GB10586,GB10589,GB11158等試驗箱技術(shù)條件,可以用來做GB2423.1,2,3,4或GB2423.22中Nb的試驗.
相對濕度:不大于85%RH; 大氣壓強:86Kpa~106Kpa(1350m)以下); 周圍無強烈振動‘ 無陽光直射,無熱源直接輻射;周圍無強烈氣流,當周圍空氣需強制流動時,不可直接吹到箱體上; 周圍無強烈電磁場; 周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì);
頻率:50±0.5Hz;
水溫:不高于30℃; 水壓:0.1~0.3Mpa; 加濕用水當用水與空氣直接接觸的方法加濕空氣時,水的電阻率不應(yīng)低于500Ωm
試驗負載的總質(zhì)量按每立方米工作室容放置50~80Kg試驗樣品計算; 試驗負載的總體積應(yīng)不大于工作室容積的1/5; 在垂直于主導(dǎo)風(fēng)向的任意截面上,試驗負載面積之和不大于該處工作室截面積的1/3; 三、環(huán)境試驗設(shè)備標準(試驗箱技術(shù)條件) 1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標準構(gòu)有九項 GB10586-89 濕熱試驗箱 技術(shù)條件 GB10587-89 鹽霧試驗箱 技術(shù)條件 GB10588-89 長霉試驗箱子 技術(shù)條件 GB10589-89 低溫試驗箱 技術(shù)條件 GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 GB10592-89 高、代溫試驗箱 技術(shù)條件 GB11158-89 高溫試驗箱 技術(shù)條件 GB11159-89 低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 2、設(shè)備標準中的共性問題 A、適用范圍 在上述的九項標準中明確規(guī)定了本標準適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家,對該標準所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。 B、適應(yīng)性 按設(shè)備標準檢測合格的產(chǎn)品,其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標準中對試驗設(shè)備的要求,按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。 C、操作性 設(shè)備標準在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時,該類標準在設(shè)備制造廠應(yīng)用較多。 D、修訂設(shè)備標準的不足之處 九項設(shè)備標準起草于上世紀八十年代,隨著科學(xué)技術(shù)、工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和要求,修訂設(shè)備標準已成為必須,現(xiàn)正在修訂。 3、GB10586濕熱試驗箱技術(shù)條件 按使用性能分Ⅰ、Ⅱ兩類,其性能指標見下列產(chǎn)品性能表。
2)GB2423.4的圖2中,降溫階段的相對濕度分為,不小于95%和不小于85%兩種。 4、GB10589低溫試驗箱技術(shù)條件
A、溫度等級及偏差
在滿載條件下,每5min的平均升溫和降溫速率等級為:不大于1℃/min、1±0.2℃/ min、3 ±0.6℃/ min或5±1℃/ min
(1)標稱值 當檢定環(huán)境試驗設(shè)備時,按試驗方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值。 (2)試驗設(shè)備容積 試驗箱(室)內(nèi)壁所限定空間的實際容積,用m3表示。。 (3)工作空間 試驗箱(室)中能將規(guī)定的試驗條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。 (4)指示點 試驗箱(室)工作空間狀態(tài)的點,一般取工作空間幾何中心點,也可根據(jù)具體情況選擇其它合適的點。 (5)試驗箱(室)穩(wěn)定狀態(tài) 試驗箱(室)指示點的自身變化量達到設(shè)備本身性能指標要求時的狀態(tài)。 (6)溫度波動度 試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間內(nèi)任意一點溫度隨時間的變化量。 計算方法:試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間指示點溫度在30min內(nèi)(每2min測試一次)每次測試中實測最高溫度與最低溫度之差的算術(shù)平均值,計算化工如下:
tfmin——指示點在30min內(nèi)的實測最低溫度,℃。 式中: 溫度均勻度,℃; 指示點30min內(nèi)的實測最高溫度,℃; 指示30min內(nèi)的實測最低溫度,℃。 (7)溫度均勻度 試驗箱(室)穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間在某一瞬時各測試點溫度之間的差值。 計算方法:試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點在30min內(nèi)(每20min測試一次)每次測試中實測最高溫度與最低溫度之差的算術(shù)平均值,計算公式如下: △Tu=[Σ(Tjmax-Tjmin)]/15 式中:△Tu——溫度均勻度,℃; Tjmax——各測試點在第j次測試中的實測最高溫度,℃; Tjmin——各測試點在第j次測試中的實測最高溫度,℃。 (8)溫度偏差 試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點在規(guī)定時間內(nèi)實測最高溫度(Tmax)和最低溫度(Tmin)與標稱溫度(TN)的上下偏差,計算公式如下: 上偏差: △Tmax=Tmax-TN 下偏差:△Tmin=Tmin-TN (9)相對濕度偏差 試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作窨各測試點在規(guī)定時間內(nèi)的實測最高相對濕度(Hmax)和最低相對濕度(Hmin)與標稱相對濕度(HN)的上下偏差,計算公式: 上偏差:△Hmax=Hmax-HN 下偏差:△Hmin=Hmin-HN (10)溫度變化速率 試驗箱(室)在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi),工作空間指示連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量,用℃/min表示。
GB/T5170.5——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 GB/T5170.8——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 GB/T5170.9——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備 GB/T5170.10——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備 GB/T5170.11——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
(1)根據(jù)試驗設(shè)備容積大小,將工作空間分為上、中、下三層,將一定數(shù)量的溫度、相對濕度和風(fēng)速傳感器放在其中規(guī)定的位置上,傳感器應(yīng)避免冷熱源的直接輻射。 溫度測量點用英文字母O、A、B,C,D,E,F(xiàn),G,H,J,K,L,M,N,U表示。 相對濕度測量點為一個,用字母Oh表示。 風(fēng)速測量點與溫度測量點的數(shù)量與布放位置完全相同。 測量O和Oh為設(shè)備工作空間的幾何中心點,其他各測量點的位置與設(shè)備內(nèi)壁的距離為工作室各自邊長的1/10。(遇有風(fēng)道時,是指與送風(fēng)口的距離),但最大距離不能大于500mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時,下層測量點可放在樣品架或樣品車上方10 mm處。 (2)設(shè)備容積小于或等于2m3時,溫度測量點9個,相對濕度測量點為1個,布放位置如下圖所示: 上層 中層 下層
門 門 門 (3)設(shè)備容積大于2m3時,溫度測量點為15個,相對濕度測量點為1個,布放位置如下圖所示:
門 門 門 (4)當試驗設(shè)備容積小于0.05 m3或大于50 m3時,可適當減少增加溫度測量點. (5)根據(jù)試驗和檢定的需要,可在設(shè)備工作空間增加對疑點的測量. (6)對于其他形狀的試驗設(shè)備,測量點數(shù)量和位置可參照上述規(guī)定執(zhí)行. B、5170.5濕熱試驗設(shè)備測量數(shù)量及位置 (1)在被試設(shè)備工作室內(nèi)定出上、中、下三個水平層面(簡稱上、中、下三層),上層與工作室頂面的距離是工作室高度的1/10,中層通過工作室?guī)缀沃行狞cO,下層在底層樣品架上方10mm處。 (2)測量點分別位于上、中、下三層,如圖1和圖2。 溫度測量點用英文字母O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示。 相對濕度測量點用字母Oh、Dh、Hh、Lh表示。 風(fēng)速測量點與溫度測量點的數(shù)量與布放位置完全相同。 (3)工作室容積不大于2m3時,溫度測量點為9個,相對濕度測量點為3個,位置如下圖: 上層 中層 下層
門 門 門 測量點O、Oh位于工作空間的幾何中心點,其他各測量點與試驗設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10,但不小于50 mm。 (4)工作室容積大于2m3時,溫度測量點為15個,相對濕度測量點為4個,位置如圖:
門 門 門 測量點E、O、Oh、U分別位于工作空間上、中、下層的幾何中心點,其他各測量點與試驗設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10,但不小于50 mm。 (5)若測出的工作空間的基本參數(shù)不符合GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.9、GB/T2423.16的要求且與測量點的位置有關(guān)時,可適當放寬6.3和6.4規(guī)定的1/10的距離,但應(yīng)在檢定報告中予以記載。 (6)當工作容積大于50 m3時,溫度測量點和相對濕度的數(shù)可適當增加。
在六頂方法標準中明確規(guī)定了該類標準是環(huán)境試驗設(shè)備在進行周期檢定頂目的確定,檢測儀器的選用,以及檢定條件、測試點數(shù)量、遠見卓識點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。 B、適應(yīng)性 按方法標準檢測合格的設(shè)備,可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境試驗。 C、操作性 本類標準在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多,試驗設(shè)備和產(chǎn)廠應(yīng)用為少。 5、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點 A、各分標準使用時應(yīng)與總則一起使用。 B、對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標準及總則一起使用。 C、檢定條件 由總則規(guī)定,其內(nèi)容與設(shè)備標準下一致。
五、GB2423.1,2,3,4及22Nb等試驗方法的考核內(nèi)容(環(huán)境試驗規(guī)程) 1、GB2423.1 試驗A低溫試驗方法 僅限于用來考核或確定電工,電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件貯存或使用的適應(yīng)性而不能用來評價試驗樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。 試驗溫度+5℃~-65℃; 允許偏差范圍±3℃; 持續(xù)時間2,16,72,96h; 2、GB2423.2 試驗B高溫試驗方法 僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存或使用的適應(yīng)性而不能用來評價試驗樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。 試驗溫度 +30℃~+200℃; 允許偏差 ±2℃; 持續(xù)時間 2,16,72。96h; 3、GB2423.3 試驗Ca恒定濕熱試驗方法 適用于確定電工、電子產(chǎn)品元件材料等在恒定濕條件下使用貯存的適應(yīng)性。 試驗條件 40℃±2℃;93%RH3+2% 持續(xù)時間 2,4,10,21,56d; 4、GB2423.4 試驗Db交變濕熱試驗方法 適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適用性。有關(guān)標準應(yīng)從以下()選取嚴酷等級。 A、高溫溫度:40℃ 試驗周期:2,6,12,21,56d; B、高溫溫度:50℃ 試驗周期:1,2,6d。 |
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